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【服務能力】可靠性試驗部分測試項目介紹

更新時間：2023-03-28

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【服務能力】可靠性試驗部分測試項目介紹

可靠性試驗的目的

可靠性試驗的目標是通過模擬和加速半導體元器件在整個壽命周期中遭遇的各種情況（器件應用壽命長短）可靠性試驗目的：使試制階段的產(chǎn)品達到預定的可靠性指標。對產(chǎn)品的制作過程起監(jiān)控作用。根據(jù)試驗制定出合理的工藝篩選條件。通過試驗可以對產(chǎn)品進行可靠性鑒定或驗收。通過試驗可以研究器件的失效機理。

可靠性試驗的分類

溫度循環(huán)試驗(TCT)

目的：利用高低溫對膨脹和收縮的機械密封應力作用下的非密封封裝固態(tài)器件的耐久性

檢測能力：溫度范圍：-75℃~250℃

覆蓋產(chǎn)品：模塊、MOSFET、IGBT、DIODE、Transistor、SCR，等分立半導體器件

執(zhí)行標準：GB，JEDEC，AEC或客戶自定義等

高溫儲存試驗(HTSL)

目的：評估產(chǎn)品長時間暴露在高溫下的耐久性

檢測能力：溫度最高300℃

覆蓋產(chǎn)品：MOSFET、IGBT、DIODE、Transistor、SCR，等分立半導體器件執(zhí)行標準：GB，JEDEC，AEC或客戶自定義等

高溫柵偏試驗(HTGB)

目的：評估器件此測試加速介質(zhì)擊穿并檢查柵氧化層質(zhì)量。

檢測能力：溫度最高200℃，電壓最高2000V

覆蓋產(chǎn)品：MOSFET、IGBT、等半導體器件

執(zhí)行標準：JEDEC，AEC或客戶自定義等

高溫反偏試驗（HTRB)

目的：評估器件在最大額定反向直流電壓和結(jié)溫下的持久能力

檢測能力：溫度最高200℃，電壓最高2000V

覆蓋產(chǎn)品：MOSFET、IGBT、DIODE、Transistor、SCR，等分立半導體器件執(zhí)行標準：JEDEC，AEC或客戶自定義等

熱疲勞試驗(TFAT)

目的：評估抵抗由間歇施加負載引起的結(jié)溫波動的能力。

檢測能力：0～80.0V/0～60A

覆蓋產(chǎn)品：MOSFET、IGBT、DIODE、Transistor、SCR， Power module(IGBT/Diodes/SCR)等分立半導體器件

執(zhí)行標準：GB，JEDEC，AEC或客戶自定義等

Power module

檢測能力：0-500A

覆蓋產(chǎn)品：Power module(IGBT/Diodes/SCR)等分立半導體器件

高溫高濕反偏壓試驗(H3TRB)

目的：評估器件在高溫下最大額定直流電壓和濕度的綜合影響下器件的能力。

檢測能力：溫度-45~150℃；濕度：0-99%RH,電壓最高300V

覆蓋產(chǎn)品：MOSFET、IGBT、DIODE、Transistor、SCR， Power module(IGBT/Diodes/SCR)等分立半導體器件

執(zhí)行標準：GB，JEDEC，AEC或客戶自定義等

高壓鍋試驗(PCT)

目的：主要適用于產(chǎn)品抗?jié)裥栽u估及堅固性測試，評估元器件在高溫和高壓條件下抵抗潮濕相關失效的能力

檢測能力：溫度121℃ 濕度100%

覆蓋產(chǎn)品：MOSFET、DIODE、Transistor、SCR，等分立半導體器件

執(zhí)行標準：GB，JEDEC，AEC或客戶自定義等

加速抗?jié)裥栽囼?UHAST)

目的：這個測試方法主要適用于抗?jié)裥栽u估和堅固性測試，并可能被用作無偏置高壓鍋試驗的替代品

檢測能力：溫度130℃ 濕度85%/溫度110℃ 濕度85% 覆蓋產(chǎn)品：MOSFET、DIODE、Transistor、SCR，等分立半導體器件

執(zhí)行標準：GB，JEDEC，AEC或客戶自定義等

高加速溫度濕度應力試驗(HAST)

目的：評估元器件在通電，高溫，高濕和高壓條件下抵抗潮濕相關失效的能力

檢測能力：溫度130℃ 濕度85%/溫度110℃ 濕度85%

With bias

覆蓋產(chǎn)品：MOSFET、DIODE、Transistor、SIC等分立半導體器件

執(zhí)行標準：GB，JEDEC，AEC或客戶自定義等

預處理（Pre-con)

目的：模似器件在包裝，運輸，貼片過程中影響產(chǎn)品的性能評估

檢測能力：室溫~400℃；加熱溫區(qū)：上10/下10

覆蓋產(chǎn)品：所有SMD類型器件

執(zhí)行標準：JEDEC，AEC或客戶自定義等

濕氣敏感度等級評估（MSL)

實驗目的：評估產(chǎn)品對濕氣的敏感度

評估那些由濕氣所誘發(fā)應力敏感的非密封固態(tài)表面貼裝元器件的分類,以便對其進行正確的封裝, 儲存和處理, 以防回流焊和維修時損傷元器件。

低溫儲存試驗(LTSL)

目的：低溫儲存試驗具有代表性的被用來判斷溫度和時間對儲存環(huán)境下固態(tài)電子元器件的影響（熱激活失效機制）

檢測能力：溫度低-75 ℃

覆蓋產(chǎn)品：MOSFET、IGBT、DIODE、Transistor、SCR，等分立半導體器件執(zhí)行標準：GB，JEDEC，AEC或客戶自定義等

ESD

檢測能力：HBM最大電壓：8000V；MM最大電壓：800V

覆蓋產(chǎn)品：MOSFET、IGBT、IC等產(chǎn)品

執(zhí)行標準：MIL，AEC等

上海簡戶儀器設備有限公司是一家高科技合資企業(yè),生產(chǎn)銷售鹽霧箱、恒溫恒濕機、冷熱沖擊機、振動試驗機、機械沖擊機、跌落試驗機的環(huán)境試驗儀器的公司，研發(fā)生產(chǎn)銷售經(jīng)營各類可靠性環(huán)境試驗設備。經(jīng)驗豐富，并得到許多國內(nèi)外廠商的信賴與支持。
　　自公司成立以來,多次服務于國內(nèi)外大學和研究所等檢測機構(gòu),如清華大學、蘇州大學、哈爾濱工業(yè)大學、北京工業(yè)大學、法國申美檢測、中科院物理所、中科院，SGS等**單位提供實施室方案和設備及其相關服務。努力開發(fā)半導體、光電、光通訊、航天太空、生物科技、食品、化工、制藥等行業(yè)產(chǎn)品所需的測試設備裝置。公司擁有一支的研發(fā)、生產(chǎn)和售後隊伍，從產(chǎn)品的研發(fā)到售后服務，每一個環(huán)節(jié)都以客戶的觀點與需求作為思考的出發(fā)點。
　　為適應市場快速變化及客戶多樣化的要求，上海簡戶儀器設備有限公司研發(fā)了性能與可靠性**JianHuTest產(chǎn)品系列.從精密零件到電腦資訊系統(tǒng)及有線無線通訊產(chǎn)業(yè)，均可提供高品質(zhì)的設備與完善的售后服務。
　　上海簡戶榮獲企業(yè)，表明上海簡戶在技術、科技成果轉(zhuǎn)化、擁有自主知識產(chǎn)權等方面得到了國家的高度認可。簡戶一直秉承"服務以人為本"的宗旨，為廣大客戶提供精良的設備及優(yōu)質(zhì)的服務，提供的送貨上門、安裝調(diào)試、一年的設備保養(yǎng)、終身維修，技術指導服務。始終如一的以"努力、合作、飛躍"的精神自我完善、不斷發(fā)展、讓客戶與公司實現(xiàn)雙贏局面。
　　
簡戶是集設計、銷售、研發(fā)、維修服務等為一體的綜合集團公司，從產(chǎn)品的研發(fā)到售后服務，每一個環(huán)節(jié)之間，都以客戶的觀點與需求作為思考的出發(fā)點，提供的環(huán)境設備。公司創(chuàng)始人從事儀器設備行業(yè)20余年，經(jīng)驗豐富、資歷雄厚，帶領簡戶公司全體同仁攜手共建輝煌明天。公司成立以來，積極投入電子電工，航空，航天，生物科技，各大院校，及科研單位等行業(yè)所需的產(chǎn)品測試設備裝置。
　　
簡戶擁有一支的研發(fā)、生產(chǎn)和售后服務隊伍，從產(chǎn)品的研發(fā)到售后服務，每一個環(huán)節(jié)都以客戶的觀點與需求作為思考的出發(fā)點，目前擁有博士學位2人，碩士5人，參與環(huán)境試驗箱國家標準起草和發(fā)行。企業(yè)制定標準，行業(yè)里通過ISO9001。是中國儀器儀表學會會員和理事單位。曾榮獲CCTV《中國儀器儀表20強品牌》殊榮，2010年入駐上海世博會民企館。簡戶自創(chuàng)辦以來，參與3項國家標準起草與制定，獲得40+件原創(chuàng)知識產(chǎn)權、軟著、集成電路)，6次獲得上?？萍夹椭行∑髽I(yè)稱號，合作過3200+家合作客戶(其中世界500強高校600家)。
　　
簡戶儀器今后必將牢記為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品和服務的宗旨，不忘為行業(yè)貢獻前沿科學和技術的初心，再接再厲，砥礪前行！
【簡戶儀器簡介:成立2005年，是一家研發(fā)，生產(chǎn)，銷售及售后齊全的綜合性設備生產(chǎn)單位，多次評為科技型中小企業(yè)，并是國家高新技術企業(yè)，客戶遍布高分子，汽車，半導體，塑膠，五金，科研院校，第三方檢測等】
　　【公司總部

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